F93荧光分光光度计

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3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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X-MET7500手持式XRF分析仪

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EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

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三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），全面确保操作人员人身安全，避免意外操作带来的辐射伤害

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ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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