深圳X荧光光谱仪，深圳rohs检测仪
测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA
CytoViva 纳米荧光高光谱显微成像系统 CytoViva
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高光谱显微镜
CytoVivac超光谱成像技术整合了专利的高信噪比光学显微镜和高分辨率的光谱成像于一体。这能够在光学显微镜上对纳米尺度的样品进行光学观察和光谱定量分析；其次，高光谱显微镜能够用于比对确认纳米材料表面独特的化学和功能基因；
原子荧光光谱仪
测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0
PL光致发光光谱测量系统
光谱测量系统 光致发光光谱测量系统 光致发光光谱测量系统的说明 光致发光光谱测量系统的特点 光致发光光谱测量系统的组成 光致发光光谱测量系统的结构图
X-MET7000系列手持式矿物分析光谱仪
快速/坚固/可靠，超一流的分析工具，表现更出色！X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析，适用于恶
日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪
日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实
AFS-2202E双道氢化物发生原子荧光光度计
技术指标 元素 As Se Pb Bi Te Sn Sb Hg Cd Zn Ge 检出限 <0.02 <0.001 <1.0 <0.05 精密度 <1.0% 线性范围 大于三个数量级